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9031410000 制造半导体器件的检测仪和器具(第90章其他品目未列名的,包括检测光掩模及光栅用的)
| 商品编码 | 9031410000 | ||||
| 商品名称 | 制造半导体器件的检测仪和器具(第90章其他品目未列名的,包括检测光掩模及光栅用的) | ||||
| 申报要素 | 0:品牌类型;1:出口享惠情况;2:用途;3:功能;4:品牌;5:型号;6:GTIN;7:CAS; | ||||
| 法定第一单位 | 台 | 法定第二单位 | 无 | ||
| 最惠国进口税率 | 0% | 普通进口税率 | 17% | 暂定进口税率 | - |
| 消费税率 | - | 增值税率 | 16% | ||
| 出口关税率 | 0% | 出口退税率 | 16% | ||
| 海关监管条件 | 无 | 检验检疫类别 | 无 | ||
| 商品描述 | 1.太阳光模拟器；2.用光学装置模拟太阳光，测试太阳能光伏组件的电性能参数，得到转换效率功率等信息；3.通过模拟太阳能的照射，使太阳能电池板产生电流，并由设备自带的电脑记录以及安装的软件进行分析得出数据；4.无品牌；5.无型号 | ||||
| 英文名称 | Other optical instruments and appliances For inspecting semiconductor wafers or devices or for inspecting photomasks or reticles used in manufacturing semiconductor devices | ||||
所属分类及章节
| 类目 | 第十八类 光学、照相、电影、计量、检验、疗或外科用仪器及设备、精密仪器及设备；钟表；乐器；上述物品的零件、附件 （90~92章） |
| 章节 | 第 九十 章 光学、照相、电影、计量、检验、医疗或外科用仪器及设备、精密仪器及设备；上述物品的零件、附件 |
申报实例汇总
| 商品编码 | 商品名称 |
| 9031410000 | 高低温温度控制测试机 |
| 9031410000 | 颗粒测试仪(旧)/检测硅片表面颗粒情况 |
| 9031410000 | 颗粒度测试仪 |
| 9031410000 | 静电卡盘 |
| 9031410000 | 集成电路测试器,可测得集成电路是否短路或断路,NIDEC-READ |
| 9031410000 | 集成电路注入剂量检测设备(旧)/监控注入机台稳定性 |
| 9031410000 | 集成电路专用表面缺陷检测仪（光学检测） |
| 9031410000 | 降尘试验箱 |
| 9031410000 | 阳光模拟器（太阳能组件IV测试） |
| 9031410000 | 间隙量测设备 |
| 9031410000 | 锡膏检测仪 |
| 9031410000 | 锡膏检查机（旧） |
| 9031410000 | 金线拉力测试仪 |
| 9031410000 | 量子效率测试仪(旧) |
| 9031410000 | 轮廓仪;测试物体表面的轮廓;测试表面颗粒高度及颗粒之间的间距;SENSOFAR-TECH,S.L. |
| 9031410000 | 超声波断层扫描仪 |
| 9031410000 | 超声波影像检查仪 |
| 9031410000 | 视觉测试仪 |
| 9031410000 | 表面缺陷检测设备 |
| 9031410000 | 薄膜厚度测试系统 |
| 9031410000 | 蒸汽老化机 |
| 9031410000 | 荧光显示屏阵列 |
| 9031410000 | 荧光显示屏栅网 |
| 9031410000 | 芯片检测机 |
| 9031410000 | 芯片检查机WS896-AA |
| 9031410000 | 芯片检查机FT1000-D |
| 9031410000 | 芯片分类机MS109-10-D4 |
| 9031410000 | 芯片分类机MS109-10-A1 |
| 9031410000 | 芯片分类机MS100Plus-3-A1 |
| 9031410000 | 芯片分类机MS100Plus-20-B2 |
| 9031410000 | 芯片分类机MS100Plus-2-A1 |
| 9031410000 | 芯片分类机MS100Plus-10-D2 |
| 9031410000 | 芯片分类机MS100Plus-1-A1 |
| 9031410000 | 芯片分类机MS100Plus II-A1 |
| 9031410000 | 芯片分类机MS100Plus II-10-A2 |
| 9031410000 | 芯片分类机ES201-10-A1 |
| 9031410000 | 芯片分类机ES101-10-A1 |
| 9031410000 | 自动薄膜应力测量仪(旧)/测试晶圆表面薄厚应力 |
| 9031410000 | 自动芯片检验机,HITACH 3D INSPECTION,品牌:HITACH,原理:利用机器内置数字摄像机,拍摄得出WAFER表面图片,用机内电脑与系统预设之标准图片自行分析比对,判断WAFER上是否有外形缺陷.同时设备内置光栅尺,利用传感器读取光栅尺位置信息,从而得出锡银球所需量测尺寸. |
| 9031410000 | 自动晶粒分类挑拣机(旧) |
| 9031410000 | 自动晶圆测试机/Prober |
| 9031410000 | 自动外观检查装置 |
| 9031410000 | 自动光学晶圆检验机;Camtek;IT行业,测量晶圆的划伤、裂痕等表面状态 |
| 9031410000 | 膜厚测量仪S3000SX |
| 9031410000 | 膜厚测试仪（旧）/测量晶圆表面膜厚 |
| 9031410000 | 膜厚测试仪(旧)/测量晶圆表面胶膜膜厚 |
| 9031410000 | 膜厚测试仪 |
| 9031410000 | 缺陷测试设备 |
| 9031410000 | 编码器光栅 |
| 9031410000 | 终端机卡接口测试仪 |
| 9031410000 | 终点检测系统/型号:SP2100 |
| 9031410000 | 终点检测系统 |
| 9031410000 | 红外回流扫描仪,品牌SONIX,检查集成电器元器件内部是否有分层,功能:非破坏性检验 |
| 9031410000 | 稳定度测试仪(旧) |
| 9031410000 | 移动终端智能卡接口单线协议测试仪 |
| 9031410000 | 科磊表面扫描仪(旧) |
| 9031410000 | 离线EL测试仪 |
| 9031410000 | 硅片颗粒扫描仪(旧) |
| 9031410000 | 硅片颗粒分析仪(旧) |
| 9031410000 | 硅片表面缺陷检查仪(旧) |
| 9031410000 | 硅片表面缺陷光学检查仪(旧) |
| 9031410000 | 硅片膜厚测试仪(旧) |
| 9031410000 | 硅片厚度测试仪 |
| 9031410000 | 硅片几何参数测试仪 |
| 9031410000 | 硅晶片检测仪 |
| 9031410000 | 电路板半导体器件光学检测仪 |
| 9031410000 | 电子产品用检查设备 |
| 9031410000 | 激光型椭偏仪 |
| 9031410000 | 激光器芯片老化测试装置用测试箱 |
| 9031410000 | 激光器芯片老化测试装置(八成新) |
| 9031410000 | 激光器芯片窄脉冲测试仪 |
| 9031410000 | 测试机(旧),用于测试集成电路,CREDENCE牌,采用微电子原理,测试集成电路好坏,集成电路,型号:QUARTET ONE,技术参数:220V等,有测试结果显示,显示集成电路好坏指标 |
| 9031410000 | 测试机(旧),用于测试集成电路,AGILENT牌,采用微电子原理,测试集成电路好坏,集成电路,型号:E6978B,技术参数:220V等,有测试结果显示,显示集成电路好坏指标 |
| 9031410000 | 测试机(修理费) |
| 9031410000 | 测试仪 |
| 9031410000 | 泵浦激光器老化测试装置用卡条 |
| 9031410000 | 水平仪 |
| 9031410000 | 模组电致发光检查设备 |
| 9031410000 | 检测芯片光功率用检测仪 |
| 9031410000 | 检测器框架 |
| 9031410000 | 检测器 |
| 9031410000 | 检测仪 |
| 9031410000 | 极间距测量装置 |
| 9031410000 | 晶片角度测量仪,用于半导体薄膜厚度测量系统,品牌NANO |
| 9031410000 | 晶片厚度测试仪（旧） |
| 9031410000 | 晶格图像检测机 |
| 9031410000 | 晶圆颗粒检测仪（旧） |
| 9031410000 | 晶圆表面金属膜厚度检测装置 |
| 9031410000 | 晶圆表面金属污染检测仪 |
| 9031410000 | 晶圆表面膜层检测装置 |
| 9031410000 | 晶圆表面膜厚检测装置 |
| 9031410000 | 晶圆表面膜厚检测仪（旧，光学检测） |
| 9031410000 | 晶圆表面膜厚和离子浓度检测装置 |
| 9031410000 | 晶圆表面缺陷检测装置（旧，光学检测） |
| 9031410000 | 晶圆表面缺陷检测装置 |
| 9031410000 | 晶圆表面图形区对中检测装置 |
| 9031410000 | 晶圆缺陷检测装置 |
| 9031410000 | 晶圆缺陷检测机 |
| 9031410000 | 晶圆缩微检查显微镜（旧） |
| 9031410000 | 晶圆缩微检查显微镜(旧,2003年产) |
| 9031410000 | 晶圆离子注入监视检测装置 |
| 9031410000 | 晶圆校准装置 |
| 9031410000 | 晶圆截面检测装置 |
| 9031410000 | 晶圆外观目检挑除机(旧) |
| 9031410000 | 晶圆外观检测挑除机(旧) |
| 9031410000 | 晶圆厚度综合测试仪 |
| 9031410000 | 晶体阻抗计 |
| 9031410000 | 晶体测试机 |
| 9031410000 | 旧芯片翘曲度测试仪/七成新 |
| 9031410000 | 旧芯片微粒测试仪/七成新 |
| 9031410000 | 旧离子测试仪/七成新 |
| 9031410000 | 旧硅片膜厚测试仪/七成新 |
| 9031410000 | 旧硅片浓度测试仪/七成新 |
| 9031410000 | 旧硅片厚膜测试仪/七成新 |
| 9031410000 | 旧校平测试仪/七成新 |
| 9031410000 | 旧微粒测试仪/六成新 |
| 9031410000 | 旧帆宣自动光学缺陷分类机 |
| 9031410000 | 旧半导体器件用测试机修理费 |
| 9031410000 | 旧半导体器件用测试机 |
| 9031410000 | 旧BUMP测试仪/七成新 |
| 9031410000 | 斜角/凸面晶片3-D形状分析系统 |
| 9031410000 | 接触式表面平整度检测装置 |
| 9031410000 | 探针测试仪(旧) |
| 9031410000 | 探针台/无品牌 |
| 9031410000 | 投影量测仪 |
| 9031410000 | 打孔检查机/用于检查线路板打孔 |
| 9031410000 | 快速检测仪（检测半导体器件） |
| 9031410000 | 微颗粒光学检测仪 |
| 9031410000 | 平整度测试仪 |
| 9031410000 | 岛津红外半导体检测仪 |
| 9031410000 | 少子寿命测试仪(旧) |
| 9031410000 | 套刻精度测试机 |
| 9031410000 | 套准量测仪（旧） |
| 9031410000 | 太阳能组件测试仪BXM-2012SA |
| 9031410000 | 太阳能组件测试仪 |
| 9031410000 | 太阳能电池颜色分类系统 |
| 9031410000 | 太阳能电池片表面瑕疵检测仪(旧) |
| 9031410000 | 太阳能电池片测试仪 |
| 9031410000 | 太阳能电池效能测试仪/旧 |
| 9031410000 | 太阳能电池QE/IPCE测试系统 |
| 9031410000 | 太阳光模拟器 |
| 9031410000 | 多晶硅电池片分色检验仪 |
| 9031410000 | 多功能晶片检测系统 |
| 9031410000 | 外观检测系统-检测晶体管外观 |
| 9031410000 | 外观检查机/用于检查线路板成品 |
| 9031410000 | 在线光学检查仪 |
| 9031410000 | 噪音测试仪 |
| 9031410000 | 可焊性测试机 |
| 9031410000 | 叠层对准检测装置 |
| 9031410000 | 叠对量测仪（旧，光学检测） |
| 9031410000 | 变焦光学系统 |
| 9031410000 | 厚度量测仪 |
| 9031410000 | 半自动裸晶测试机 |
| 9031410000 | 半导体颗粒测试仪（旧） |
| 9031410000 | 半导体设备用函数发生器 |
| 9031410000 | 半导体膜厚测量仪（旧） |
| 9031410000 | 半导体硅片检查仪（旧） |
| 9031410000 | 半导体硅片检查仪(旧) |
| 9031410000 | 半导体硅片检查仪 |
| 9031410000 | 半导体用缺陷检查仪/旧 |
| 9031410000 | 半导体用微波检测仪 |
| 9031410000 | 半导体测试机组件 |
| 9031410000 | 半导体测试机(旧) |
| 9031410000 | 半导体检测设备 |
| 9031410000 | 半导体检测仪（旧） |
| 9031410000 | 半导体检查装置 |
| 9031410000 | 半导体晶片光学检测仪(旧) |
| 9031410000 | 半导体晶圆检测仪器(旧) |
| 9031410000 | 半导体晶圆检查测量机（旧） |
| 9031410000 | 半导体晶圆检查测量机(旧) |
| 9031410000 | 半导体晶圆检查测量机 （旧） |
| 9031410000 | 半导体晶圆检查测量机 （旧） |
| 9031410000 | 半导体器件测试机, |
| 9031410000 | 半导体器件检测仪 |
| 9031410000 | 半导体器件器具 |
| 9031410000 | 半导体器件功率循环测试机 |
| 9031410000 | 半导体加工测试机 |
| 9031410000 | 半导体加工测试仪 |
| 9031410000 | 制造半导体器件的检测器具 |
| 9031410000 | 制造半导体器件的检测仪和器具 |
| 9031410000 | 制造半导体器件的检测仪 |
| 9031410000 | 全自动高温晶圆应力检测装置 |
| 9031410000 | 全自动表贴LED分类系统/SLS200C |
| 9031410000 | 全自动芯片扫描检查系统 |
| 9031410000 | 全自动检测机 |
| 9031410000 | 全自动晶粒挑拣机 |
| 9031410000 | 全自动外观检查机 |
| 9031410000 | 全尺寸光伏组件电致发光成像仪[旧] |
| 9031410000 | 光致发光硅片测试仪 |
| 9031410000 | 光致发光测试仪 |
| 9031410000 | 光罩表面缺陷检测装置 |
| 9031410000 | 光罩缺陷检测机（旧，光学检测） |
| 9031410000 | 光电开关用检测器具 |
| 9031410000 | 光栅尺 |
| 9031410000 | 光栅 |
| 9031410000 | 光掩膜版位置精度测量机 |
| 9031410000 | 光学表面形貌测量仪 |
| 9031410000 | 光学测试治具 |
| 9031410000 | 光学宏观缺陷扫描仪主机F30 |
| 9031410000 | 光学厚度量测仪 |
| 9031410000 | 亮度测试机(维修费) |
| 9031410000 | 亮度测试机 |
| 9031410000 | 三维管脚检测仪(旧) |
| 9031410000 | 三极管测试机 |
| 9031410000 | 三光检查系统 |
| 9031410000 | VITROX外观检测系统VT-LP2000T |
| 9031410000 | TOPAS全处理过程分析系统/针对各元器件及发光二极管 |
| 9031410000 | PSS测试系统 |
| 9031410000 | PCB测试设备 |
| 9031410000 | LW1000自动耦光系统 |
| 9031410000 | LED测试机 |
| 9031410000 | LED全自动高速测速机 |
| 9031410000 | LED全自动高速测试机/旧 |
| 9031410000 | LED全自动高速测试机 |
| 9031410000 | LED亮度测试机(维修费) |
| 9031410000 | LD测试装置 |
| 9031410000 | KEYENCE晶体管外观检测系统 |
| 9031410000 | DVD光学头评价机/PULSTEC |
| 9031410000 | DVD光学头参数测量调整仪/PULSTE |
| 9031410000 | DVD光学头参数测量调整仪 |
| 9031410000 | CCD摄像机(光学检测模组) |
| 9031410000 | CCD影像机（光学检测模组） |
| 9031410000 | 3D光学轮廓仪 |
| 9031410000 | 2A级太阳光模拟器及I-V测试系统 |
